Объявления:
КГС Классификатор государственных стандартов Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратурыЭлементы радиоэлектронной аппаратуры
Подкатегории категории Элементы радиоэлектронной аппаратуры:
Классификация, номенклатура и общие нормы Резисторы и конденсаторы Электронные и ионные приборы Полупроводниковые приборы Радиокомпоненты Микроэлектроника Квантовая электроника Методы испытаний. Упаковка. Маркировка | ГОСТ 24613.18-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 21316.7-75 Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 24613.15-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 17490-77 Лазеры и излучатели инжекционные, диоды лазерные. Основные параметры | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 7 |
| ГОСТ 8490-77 Трубки рентгеновские. Общие технические условия | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 32 |
| ГОСТ 24613.13-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 2 |
| ГОСТ 19438.17-77 Лампы электронные маломощные. Методы измерения времени разогрева катода и времени готовности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 9 |
| ГОСТ 19438.16-77 Лампы электронные маломощные. Методы измерения входных сопротивлений | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 19656.13-76 Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 16 |
| ГОСТ 21316.0-75 Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 8 |
| ГОСТ 21316.4-75 Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 5 |
| ГОСТ 21316.6-75 Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 21316.3-75 Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 5 |
| ГОСТ 21316.2-75 Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 21316.1-75 Фотоэлементы. Метод измерения световой чувствительности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21316.5-75 Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21011.6-78 Кенотроны высоковольтные. Метод испытания на многократные включения и выключения напряжения накала | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21342.15-78 Резисторы. Метод определения температурной зависимости сопротивления | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1979 | Страниц: 7 |
| ГОСТ 21107.12-78 Приборы газоразрядные. Методы измерения электрических параметров режимов эксплуатации и режимов измерений искровых разрядников | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1979 | Страниц: 13 |
