Объявления:
ОКП 630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ 634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических 634100 Приборы полупроводниковыеПриборы полупроводниковые
Отобразить только:
все найденные
действующие
заменённые
отменённые
принятые
утратили силу в РФ
С истекшим сроком
действующие только в РФ
все найденные
действующие
заменённые
отменённые
принятые
утратили силу в РФ
С истекшим сроком
действующие только в РФ
| ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1976 | Страниц: 7 |
| ГОСТ 18604.10-76 Транзисторы биполярные. Метод измерения входного сопротивления | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1978 | Страниц: 7 |
| ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1975 | Страниц: 7 |
| ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1980 | Страниц: 8 |
| ГОСТ 20398.5-74 Транзисторы полевые. Метод измерения входной, проходной и выходной емкостей | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1976 | Страниц: 8 |
| ГОСТ 18604.7-74 Транзисторы. Метод измерения коэффициента передачи тока | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1976 | Страниц: 8 |
| ГОСТ 19656.4-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1975 | Страниц: 9 |
| ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1975 | Страниц: 10 |
| ГОСТ 18604.26-85 Транзисторы биполярные. Методы измерения временных параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1986 | Страниц: 10 |
| ГОСТ 18577-80 Устойства термоэлектрические полупроводниковые. Термины и определения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1981 | Страниц: 10 |
| ГОСТ 19138.6-86 Тиристоры. Методы измерения электрических параметров | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1987 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 18604.24-81 Транзисторы биполярные высокочастотные. Метод измерения выходной мощности коэффициента усиления по мощности и коэффициента полезного действия коллектора | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1982 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 17466-80 Транзисторы биполярные и полевые. Основные параметры | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1984 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 18604.19-88 Транзисторы биполярные. Метод измерения граничного напряжения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1989 | Страниц: 12 |
| ГОСТ 18604.3-80 Транзисторы. Методы измерения емкостей коллекторного и эмиттерного переходов | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 13 |
| ГОСТ 18604.1-80 Транзисторы биполярные. Метод измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 14 |
| ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения | |
| Дата актуализации текста: 01.08.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 01.08.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 30.06.1985 | Страниц: 15 |
