Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
Добавить в закладки
О проекте
 
Партнеры
 
Контакты
Объявления:
ОКП
630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ
634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
634100 Приборы полупроводниковые
Приборы полупроводниковые
Искать в
Приборы полупроводниковые
Искать!
Содержит
75
документов
Страницы:
1
2
3
4
»
Отсортировать по:
Номеру стандарта
Статусу
↓
Дате регистрации
Дате введения
Названию
Количеству страниц
Отобразить только:
все найденные
действующие
заменённые
отменённые
принятые
утратили силу в РФ
С истекшим сроком
действующие только в РФ
ГОСТ 25212-82
Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
утратил силу в РФ
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1983
Страниц: 15
ГОСТ 25373-82
Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
утратил силу в РФ
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.07.1984
Страниц: 15
ГОСТ 15606-70
Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
отменён
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
Страниц: 0
ГОСТ 18986.3-73
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1975
Страниц: 3
ГОСТ 26086-84
Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1985
Страниц: 15
ГОСТ 24428-80
Лазеры газовые. Общие технические условия
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1982
Страниц: 24
ГОСТ 18986.23-80
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1982
Страниц: 12
ГОСТ 18986.19-73
Варикапы. Метод измерения добротности
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1975
Страниц: 10
ГОСТ 18604.11-88
Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1990
Страниц: 18
ГОСТ 18472-88
Приборы полупроводниковые. Основные размеры
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1989
Страниц: 105
ГОСТ 19138.6-86
Тиристоры. Методы измерения электрических параметров
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1987
Страниц: 11
ГОСТ 18604.26-85
Транзисторы биполярные. Методы измерения временных параметров
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1986
Страниц: 10
ГОСТ 25819-83
Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1984
Страниц: 12
ГОСТ 25213-82
Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1983
Страниц: 15
ГОСТ 25369-82
Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1983
Страниц: 18
ГОСТ 18604.2-80
Транзисторы биполярные. Методы измерения статического коэффициента передачи тока
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1982
Страниц: 15
ГОСТ 18604.16-78
Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента обратной связи по напряжению в режиме малого сигнала
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.06.1979
Страниц: 4
ГОСТ 18986.21-78
Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1980
Страниц: 6
ГОСТ 18986.0-74
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
01.01.1976
Страниц: 3
ГОСТ 18604.4-74
Транзисторы. Метод измерения обратного тока коллектора
Дата актуализации текста:
01.08.2013
Статус:
действующий
Дата актуализации описания:
01.08.2013
Тип документа:
стандарт
Дата введения:
30.09.1976
Страниц: 4
Страницы:
1
2
3
4
»
Навигационное меню:
Общероссийский классификатор стандартов
Классификатор государственных стандартов
Тематические сборники
Обязательная сертификация
Декларация о соответствии
ОКП
Технические регламенты РФ
Строительный каталог
2008-2013.
ГОСТы
,
СНиПы
,
СанПиНы
- Нормативные документы - стандарты.
Приборы полупроводниковые, Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ, ОКП,