Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
Объявления:
   ОКП
  630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ
  634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
  634100 Приборы полупроводниковые

Приборы полупроводниковые

Искать в Приборы полупроводниковые
Искать!

Содержит 72 документов
Страницы: « 1 2 3 4

ГОСТ 18604.7-74 Транзисторы. Метод измерения коэффициента передачи тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 8
ГОСТ 19138.7-74 Тиристоры. Метод измерения импульсного запирающего тока управления, импульсного запирающего напряжения управления, импульсного коэффициента запирания
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 6
ГОСТ 19656.4-74 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 9
ГОСТ 19138.4-73 Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1975Страниц: 4
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 10
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1974Страниц: 5
ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 30.06.1974Страниц: 4
ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Дата актуализации текста: 01.08.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 01.08.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1974Страниц: 4
Страницы: « 1 2 3 4

Навигационное меню:

  ОКП
     Строительный каталог
2008-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Нормативные документы - стандарты. Приборы полупроводниковые, Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ, ОКП,