Объявления: | |||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативные документы - главная страницаГОСТ 24613.8-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляцииНастоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
|